牙周探診檢查的技術是口腔醫(yī)師實踐技能考試中可能涉及的考點，下面將有關考察要點整理分享給大家，希望對大家備考有幫助。

1.用改良握筆法握持探針。

2.探診時要有支點，可以是口內(nèi)支點，也可以是口外支點。

3.探入時探針應與牙體長軸平行，探針頂端緊貼牙面，沿根面深入牙周袋或齦溝，注意探入時若遇到牙石要避開牙石，直達袋底。

4.探入力量要輕，約為20～25g。

5.以提插方式移動探針，如“走步”樣圍繞每個牙的每個牙面進行探查，以發(fā)現(xiàn)袋最深的部位及袋的形態(tài)。

6.在探查鄰面時，要緊靠接觸區(qū)處探入，探針可稍傾斜以便能探入接觸點下方的齦谷處。

7.對多個牙或全口牙探診時，要按一定順序進行。每個牙探查要包括6個位點：頰側近中、中央、遠中位點及舌（腭）側近中、中央、遠中位點。

8.測量記錄每個位點的探診深度（probing depth，PD），即袋底至齦緣的距離，以mm為單位記錄。

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