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根分叉臨表-口腔執(zhí)業(yè)助理醫(yī)師復習精華

2015-03-24 13:31 醫(yī)學教育網(wǎng)
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為方便廣大考生復習,醫(yī)學教育網(wǎng)整理了口腔助理醫(yī)師考試的相關(guān)內(nèi)容,以供參考:

牙周袋和骨吸收波及根分叉區(qū),可從臨床上探查到。主要根據(jù)探診和X線片來判斷病變的程度。Glickman將其分為四度,此分類法有利于指導治療和判斷預后。

I度:從牙周袋內(nèi)已能探到根分叉的外形,但尚不能水平探入分叉內(nèi),在X線片上看不到分叉區(qū)牙槽骨的吸收。

Ⅱ度:分叉區(qū)骨吸收僅限于頰側(cè)或舌側(cè),或頰舌側(cè)均有吸收但尚未與對側(cè)相通,根分叉區(qū)內(nèi)尚有部分牙槽骨和牙周膜存在。臨床探查時探針可從水平方向部分地進入分叉區(qū)內(nèi),但與對側(cè)不相通,X線片一般僅顯示分叉區(qū)的牙周膜增寬,或骨質(zhì)密度有小范圍的降低。

Ⅲ度:根分叉區(qū)的牙槽骨全部吸收,形成“貫通性”病變,探針能水平通過分叉區(qū),但它仍被牙周袋軟組織覆蓋而未直接暴露于口腔。下頜磨牙的Ⅲ度病變在X線片上可見完全的透影區(qū),但有時會因牙根靠近或外斜線的重疊而使瘸變不明顯醫(yī)`學教育網(wǎng)搜集整理。

Ⅳ度:根間骨隔完全破壞,且牙齷退縮而使病變的根分叉區(qū)完金暴露于口腔。X線片所見與Ⅲ度病變相似。

上頜磨牙的頰側(cè)以及下頜磨牙的頰、舌側(cè)分叉一般較易探查,但上頜磨牙鄰面的分叉病變較難探測,可用彎探針從腭側(cè)進入,分別探測近中及遠中分叉。上頜磨牙根分叉區(qū)的病變常因與腭根重疊而不被顯示。X線片只能起輔佐作用??偟恼f來,由于受投照角度、組織影像重疊以及骨質(zhì)破壞形態(tài)的復雜性,X線片所見的病變總是比臨床實際要輕。

根分叉區(qū)易于存積菌斑,故該處的牙周袋常有明顯的炎癥或溢膿,但也有時表面似乎正常,而袋內(nèi)壁卻有炎癥,探診后出血常能提示深部存在炎癥。當治療不徹底或其他原因使袋內(nèi)引流不暢時,可能發(fā)生急性牙周膿腫。

當病變使牙根暴露或發(fā)生根面齲,或牙髓受累時,患牙常可出現(xiàn)對溫度敏感直至自發(fā)痛等癥狀。早期牙齒尚不松動,晚期可出現(xiàn)牙齒松動。

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