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y：概率密度，表示測量值在此處出現(xiàn)的概率。y越大，出現(xiàn)的可能性越大。x：測量值。

μ總體平均值：無限次數(shù)據(jù)的平均值，相應(yīng)于曲線最高點(diǎn)的橫坐標(biāo)值，表示無限個(gè)數(shù)據(jù)集中趨勢。在沒有系統(tǒng)誤差時(shí)，它就是真值。

σ總體標(biāo)準(zhǔn)偏差：總體平均值到曲線兩轉(zhuǎn)折點(diǎn)之一的距離，表征數(shù)據(jù)分散程度。σ小，數(shù)據(jù)集中，曲線又高又瘦，σ大，數(shù)據(jù)分散，曲線比較矮比較胖。

x-σ：隨機(jī)誤差。若以x-σ為橫坐標(biāo)，則曲線最高點(diǎn)對應(yīng)橫坐標(biāo)為0.

對于一條曲線來說，μ和σ是這條曲線的兩個(gè)參數(shù)，所以用N（μ，σ）表示這條曲線。這條曲線可以用一個(gè)函數(shù)式表示。

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