照相法以光源發(fā)出的特征X射線照射多晶樣品，并用底片記錄衍射花樣。根據(jù)樣品與底片的相對(duì)位置，照相法可以分為德拜法、聚焦法和針孔法，其中德拜法應(yīng)用最為普遍。

德拜法以一束準(zhǔn)直的特征X射線照射到小塊粉末樣品上，用卷成圓柱狀并與樣品同軸安裝的窄條底片記錄衍射信息，獲得的衍射花樣是一些衍射弧。此方法的優(yōu)點(diǎn)為：⑴ 所用試樣量少（0.1毫克即可）；⑵ 包含了試樣產(chǎn)生的全部反射線；⑶ 裝置和技術(shù)比較簡(jiǎn)單醫(yī)`學(xué)教育網(wǎng)搜集整理。

聚焦法的底片與樣品處于同一圓周上，以具有較大發(fā)散度的單色X射線照射樣品上較大區(qū)域。由于同一圓周上的同弧圓周角相等，使得多晶樣品中的等同晶面的衍射線在底片上聚焦成一點(diǎn)或一條線。聚焦法曝光時(shí)間短，分辨率是德拜法的兩倍，但在小θ 范圍衍射線條較少且寬，不適于分析未知樣品。

針孔法用三個(gè)針孔準(zhǔn)直的單色X射線為光源，照射到平板樣品上。根據(jù)底片不同的位置針孔法又分為穿透針孔法和背射針孔法。針孔法得到的衍射花樣是衍射線的整個(gè)圓環(huán)，適于研究晶粒大小、晶體完整性、宏觀殘余應(yīng)力及多晶試樣中的擇優(yōu)取向等。但這種方法只能記錄很少的幾個(gè)衍射環(huán)，不適于其它應(yīng)用。